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文章來源 : 廣東優科檢測 發表時間：2023-05-19 瀏覽數量：
優科檢測是專業第三方元器件二次篩選機構，實驗室具備GJB128A-1997標準CNAS檢測資質和檢測能力，可提供三極管元器件篩選服務，并可出具權威認可的第三方元器件二次篩選檢測報告。
GJB 128A-1997 《半導體分立元器件試驗方法》
外觀初查─→常溫初測─→高溫貯存─→溫度循環─→常溫測試─→功率老煉─→常溫測試─→高溫反偏（PNP硅管做）─→常溫測試─→高溫測試（有要求時）─→低溫測試（有要求時）─→常溫復測─→外觀復查─→打印標記。
1. 外觀初查
目視或用5～10倍放大鏡檢查下列項目：
a) 管腳不應有機械損傷、斷裂、銹蝕等現象；
b) 管帽不應有變形、頸縮、嚴重掉漆、開裂等現象；
c) 產品型號、出廠日期等標志應清楚、正確。
2. 常溫初測
在室溫下，按產品規范或協議要求進行測試，電參數應符合規定。
用圖示儀觀察輸出特性曲線及擊穿特性曲線，剔除曲線明顯不均勻及有軟擊穿、分段擊穿等異常現象的三極管。
3. 高溫貯存
高溫貯存條件和時間如下表所示：
類別 | 貯存溫度 ℃ | 貯存時間 h |
鍺管 | 100±3 | 24 |
硅管（金屬封裝） | 150±3 | |
硅管（其它封裝） | 125±3 | |
注： 由于封裝材料耐溫性所限，試驗溫度不應超過產品標準給定的極限溫度。 | ||
4. 常溫測試
篩選試驗結束后的常溫測試均要求在室溫下放置2h后進行。
5. 溫度循環
試驗方法按GJB 128A方法1051執行，其中保持時間為30min，轉換時間小于1min。
溫度循環條件如下表所示：
類 別 | 溫 度 ℃ | 循環次數 |
鍺 管 |
| 5 |
硅 管 | -55±3 | 5 |
注： 試驗溫度不應超過產品標準給定的極限溫度。 | ||
6. 功率老煉
6.1 中小功率三極管
在常溫下老煉，老煉時間：24 h。
老煉功率一般取（1～1.2）PCM。
老煉功率中電流與電壓的分配原則如下：
電壓Vce=K·V(br)ceo，其中K值如下表所示：
V(BR)CEO v | ＜15 | 15～50 | 50～100 | ＞100 |
K | 0.75～1 | 0.6～0.75 | 0.45～0.6 | 0.3～0.45 |
電流 Ic=Pcm/Vce
6.2 大功率三極管
在常溫下老煉，老煉時間：12 h。
老煉功率一般取（0.7～1）PCM。
老煉電流：Ic=（1/2～1/3）ICM。
大、中、小功率三極管功率老煉時，應考慮老煉功率的選取不應使管芯溫度超過TjM。
7. 高溫反偏（PNP硅管做）
試驗方法按GJB 128A方法1039條件A執行。在125℃±3℃溫度下，PNP硅管CB結加V(BR)CBO電壓的80％，保持24h。漏電流不超過標準值。
8. 高溫測試(有要求時)
測試溫度100℃或按照器件技術規范或技術協議。測試溫度下的保溫時間按照5.4執行。
合格判據按照產品規范或技術協議執行。
9. 低溫測試(有要求時)
測試溫度-55℃或按照器件技術規范或技術協議。測試溫度下的保溫時間按照5.4執行。
合格判據按照產品規范或技術協議執行。
10. 常溫復測
同2.。
11. 外觀復查
目視或用5～10倍放大鏡檢查下列項目：
a) 管腳不應有機械損傷、斷裂、銹蝕等現象；
b) 管帽不應有變形、頸縮、嚴重掉漆、開裂等現象；
c) 產品型號、出廠日期等標志應清楚、正確。
12. 打印標記
凡經篩選合格的三極管均按相關文件規定打印篩選標記。
1. 專家團隊
可靠性檢測專家、定制化服務、專業人員技術培訓服務，擁有多名航空、航天電子元器件質量可靠性專組成的專家團隊50余人。
2. 專業設備
配備各種規格的集成電路測試系統，老煉箱50余臺、各類環境箱體20臺套、機械性能與可靠性檢測設備30臺套、半導體分立器件測試系統、模擬器件測試系統、檢漏系統、PIND顆粒碰撞檢測設備等。
3. 一站式方案服務
依據客戶產品規格，準確制定元器件的篩選方案和規程\依據篩選結果，準確定位元器件失效機理，并依據客戶需求給出元器件失效分析方案。
4. 權威保障
軍用級檢測體系控制+軍方實驗室認可檢測設備，保證測試流程和測試精度，第三方公正檢測機構。
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