×
文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間：2025-06-09 瀏覽數量：
元器件老化篩選是電子產品研發(fā)和制造中的關鍵環(huán)節(jié)，通過模擬高溫、低溫、機械振動等惡劣環(huán)境，加速暴露元器件的潛在缺陷，從而剔除早期失效產品，提升整體可靠性。
優(yōu)科檢測認證作為專業(yè)的第三方電子元器件檢測機構，具備CNAS、CMA等權威資質，可為電子元件、半導體器件、集成電路及電子產品模塊提供全面的元器件老化篩選服務。
我們的實驗室配備國際領先的檢測設備，覆蓋電阻、電容、繼電器、晶體振蕩器、MOS管、IGBT、FPGA等百余類元器件的二次篩選需求，幫助客戶從源頭保障產品質量。
目的：
- 剔除早期失效產品：通過施加熱、電、機械等應力，加速暴露元器件在制造或運輸過程中產生的缺陷（如焊接不良、氧化層缺陷等）。
- 提升產品可靠性：確保元器件在極端環(huán)境下仍能穩(wěn)定運行，降低使用中的故障率。
原理：
老化篩選的核心是“模擬真實使用環(huán)境”。例如，高溫功率老化通過+80~+180℃的高溫環(huán)境，模擬元器件在實際電路中的工作條件；溫度循環(huán)篩選則通過-55℃至+125℃的反復變化，檢測熱脹冷縮導致的材料不匹配問題。
以下元器件因易受環(huán)境影響或對可靠性要求較高，建議進行老化篩選：
1. 電子元件：電阻、電容、電感、繼電器、晶體諧振器等；
2. 半導體分立器件：二極管、三極管、MOS管、IGBT等；
3. 半導體集成電路：CPU、存儲器、FPGA、ADC/DAC等；
4. 電子模塊：電源模塊、通訊模塊、控制模塊等。
優(yōu)科檢測依據國家及行業(yè)標準（如GB/T2828-87、ISO/IEC17025）設計篩選方案，常見測試標準包括：
- 高溫存儲：非工作狀態(tài)下，125±3℃高溫箱中存放24~168小時；
- 功率老煉：額定功率下通電運行數小時至168小時（軍用級可延長至240小時）；
- 溫度循環(huán)：-55℃至+125℃循環(huán)5~10次，考核熱匹配性能；
- 機械振動：掃頻振動（10Hz~2kHz，加速度20g）或隨機振動，模擬運輸與使用中的沖擊。
優(yōu)科檢測提供以下主流篩選方法，滿足不同客戶需求：
1. 高溫老化：通過高溫箱模擬長期高溫環(huán)境，加速化學反應與參數漂移；
2. 功率老煉：在額定或稍高于額定條件下通電運行，暴露電氣缺陷；
3. 溫循沖擊：高低溫交替沖擊，檢測熱應力導致的失效；
4. 機械振動與沖擊：模擬運輸及使用中的機械應力，發(fā)現虛焊、結構松動等問題；
5. 恒加速度試驗：通過離心機施加20000g加速度，剔除鍵合不良的器件。
1. 咨詢需求：客戶提交元器件類型、數量及技術要求（如溫度范圍、篩選時間等）；
2. 送樣檢測：將元器件寄送至廣東優(yōu)科檢測實驗室，簽署保密協(xié)議；
3. 執(zhí)行篩選：根據標準方案進行老化測試（如高溫存儲、功率老煉等）；
4. 數據記錄：全程監(jiān)控并記錄參數變化，剔除失效產品；
5. 報告生成：出具權威檢測報告，包含篩選條件、測試數據、結論及改進建議；
6. 交付服務：報告電子版與紙質版同步交付，支持國際認證與客戶存檔。
- 資質權威：CNAS、CMA、UL、TUV等多國認證，檢測報告全球認可；
- 技術領先：15年專注電子元器件檢測，覆蓋民用到宇航級全領域；
- 服務高效：提供定制化篩選方案，最快24小時響應需求；
- 成本優(yōu)化：針對不同可靠性等級（如軍用、民用）靈活調整篩選強度，平衡成本與質量。
元器件老化篩選是保障電子產品可靠性的關鍵步驟。優(yōu)科檢測憑借專業(yè)的技術實力和豐富的行業(yè)經驗，為客戶提供一站式解決方案，助力企業(yè)降低故障率、提升產品競爭力。如需了解更多信息或預約檢測，歡迎在線或致電咨詢！
獲取報價
如果您對我司的產品或服務有任何意見或者建議，您可以通過這個渠道給予我們反饋。您的留言我們會盡快回復！
0769-82327388
微信訂閱號
微信咨詢
