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文章來源 : 廣東優科檢測 發表時間：2019-04-24 瀏覽數量：
廣東優科檢測是已獲得CNAS和CMA資質認可的第三方檢測機構，自有獨立檢測實驗室，可提供電子連接器低階接觸阻抗測試等可靠性測試服務。接下來為大家介紹電子連接器低階接觸阻抗測試程序。
1. 電子連接器低階接觸阻抗簡介
電子連接器低階接觸阻抗(low level contact resistance)是電性量測中最重要的一項參數。一般要了解電子連接器接觸點的穩定性是否正常，有二項參數最為重要，即為「正向力」與「低階接觸阻抗」的關系，上期已介紹了正向力，本期繼續介紹低階接觸阻抗，一般鍍金連接器的接觸阻抗值約為10毫歐姆(mΩ)附近。
2. 目標
測試目標在于詳述測試成對接點因絕緣膜可能存在，不致發生崩潰或急速熔化的電阻的標準片法。
圖1
3. 試件的準備
3.1 試件必須為配對的接點如插頭和插座接點，成對的公母接點，或印刷路板和與之配對的接點。
3.2 接點應如圖2A以指定規格的導線連接。成對接點間之連接應如圖2B所示。
3.3 試件可以裝設于合適的連接器中并使之工作如同于一般狀態。若試件不裝設于連接器中，則不應以任何會干擾此配對接點施力介面的方式來固定試件。
圖2A
4. 測試方法
4.1 測試設備
測試設備應由下述各項所構成﹕
4.1.1 適當量測量范圍之微電壓表，經校正的準確度為±2%滿刻度或±10%實際讀數的最小值。
4.1.2 能驅動并準確地量測最大100mA電流和最大20mV(峰值)開路電壓的低壓的低階電路。圖1顯示一可接受的電路(此電路能驅動1mA電流)。在執行交流量測時，頻率不得超過2KHz。
4.1.3 量測以直流或交流方式執行之。然而，在爭議之情況下應以直流方式量測。
4.2 測試程序
4.2.1 將試件連接于T1和T2之間。
4.2.2 順向貫注功率予測試電路。記錄包括極性的順向電壓降V f和順向電流If。
4.2.3 逆向貫注功率予測試電路。記錄包括極性的逆向電壓V r和逆向電流I r。
4.2.4 接觸阻抗應為順向壓降和逆向壓降的代數差的絕對值除以順逆向電流絕對值的和。如下述公式所述﹕
R=∣V f-V r∣/∣I f + I r∣
其中，R=接觸阻抗(Ω)
V f=含極性之順向壓降(V)
V r=含極性之逆向壓降(V)
I f=順向電流(A)
I r=逆向電流(A)
4.2.5 警告
4.2.5.1 試件在測試前和測試中不得施加超過20mV以上的電壓。
4.2.5.2 測試回路的總電阻(包含接點和流電阻)必須小于100mΩ。
4.2.5.3 接點在預調或環境曝露之間以及完成低階接觸阻抗測試之前，都不應受到物理性的干擾。
5. 應記錄的細節
當測試以詳細規格所具體指定，如下述的細節應予以列入：
a)測試的試件數目。
b)導線的型式和尺寸。
c)電阻需求。
d)Y-Y尺寸(參考圖2A)
6. 文件數據資料應包括：
a) 測試標題。
b) 試件描述。
c) 使用的測試設備。
d) 測試程序。
e) 測試值和觀察心得。
f) 測試資料和操作者姓名。
g) 取樣計算。
以上就是關于電子連接器低階接觸阻抗測試程序的介紹，如果您有電子連接器產品需要做可靠性測試，或辦理UL認證、TUV認證，歡迎聯系廣東優科檢測工程師！
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