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文章來源 : 廣東優科檢測 發表時間：2023-09-19 瀏覽數量：
優科檢測認證是具備AEC-Q100標準CNAS全項檢測能力和CNCA發證資質的AEC-Q100認證公司，可提供IC集成電路AEC-Q100認證服務。
AEC-Q100是AEC的第一個標準，主要是針對車載應用的集成電路產品所設計出的一套應力測試標準，此規范對于提升產品信賴性品質保證相當重要。AEC-Q100是預防可能發生各種狀況或潛在的故障狀態，對每一個芯片進行嚴格的質量與可靠度確認，特別對產品功能與性能進行標準規范測試。
AEC-Q100有四個溫度等級：0，1，2，3。其中0為最高級別，相應的溫度區間為-40°C-150°C。若能達到0級要求則代表產品可以用于汽車各個部件。
溫度范圍是AEC-Q100核心標準之一。
車用一次性內存、電源降壓穩壓器、車用光電耦合器、三軸加速規傳感器、視訊譯碼器、整流器、環境光傳感器、非易失性鐵電存儲器、電源管理IC、嵌入式閃存、DC/ DC穩壓器、車規網絡通訊設備、液晶驅動IC、單電源差動放大器、電容接近式開關、高亮度LED驅動器、異步切換器、600V IC、GPS IC、ADAS高級駕駛員輔助系統芯片、GNSS接收器、GNSS前端放大器等。
類似于一般汽車零部件的DV測試，AEC-Q標準其實也就是一種對芯片本身的設計認可的測試標準，分為不同的測試序列，對芯片進行不同維度的測試。
AEC-Q100一共分為13個子標準，分別是AEC-Q100主標準和從001到012的12個子標準。
標準編號 | 標準名 | 中文含義 |
AEC-Q100 Rev-H | Failure Mechanism Based Stress Test Qualification For Integrated Circuits(base document | 基于集成電路應力測試認證的失效機理 |
AEC-Q100-001 | Wire Bond Shear Test | 邦線切應力測試 |
AEC-Q100-002 | Human Body Model (HBM) Electrostatic Discharge Test | 人體模式靜電放電測試 |
AEC-Q100-003 | Machine Model (MM) Electrostatic Discharge Test | 機械模式靜電放電測試 |
AEC-Q100-004 | IC Latch-Up Test | 集成電路閂鎖效應測試 |
AEC-Q100-005 | Non-Volatile Memory Program/Erase Endurance, Data Retention, and Operational Life Test | 非易失性存儲程序/擦除耐久性、數據保持及工作壽命的測試 |
AEC-Q100-006 | Electro-Thermally Induced Parasitic Gate Leakage Test (GL) | 熱電效應引起的寄生門極漏電流測試 |
AEC-Q100-007 | Fault Simulation and Test Grading | 故障仿真和測試等級 |
AEC-Q100-008 | Early Life Failure Rate (ELFR) | 早期壽命失效率 |
AEC-Q100-009 | Electrical Distribution Assessment | 電分配的評估 |
AEC-Q100-010 | Solder Ball Shear Test | 錫球剪切測試 |
AEC-Q100-011 | Charged Device Model (CDM) Electrostatic Discharge Test | 帶電器件模式的靜電放電測試 |
AEC-Q100-012 | Short Circuit Reliability Characterization of Smart Power Devices for 12V Systems | 12V 系統靈敏功率設備的短路可靠性描述 |
AEC-Q100詳細規定了一系列的測試，同時定義了應力測試驅動型認證的最低要求以及IC認證的參考測試條件。這些測試包括7個測試群組：
測試群組A (環境壓力加速測試，Accelerated Environment Stress)
測試群組B (使用壽命模擬測試，Accelerated Lifetime Simulation)
測試群組C (封裝組裝整合測試，Package Assembly Integrity)
測試群組D (芯片晶圓可靠度測試，Die Fabrication Reliability)
測試群組E (電氣特性確認測試，Electrical Verification)
測試群組F (瑕疵篩選監控測試，Defect Screening)
測試群組G (封裝凹陷整合測試，Cavity Package Integrity)
對于每個測試群組中的詳細測試項目，在AEC-Q100標準中有詳細的描述，并且每種測試的測試時間也根據Grade等級給出了不同的要求。在AEC-Q100的測試中，對于序列A中，測試的樣品數很多都是77個，并且要求0 Fails，這就極大得增加了芯片測試的置信度。
AEC-Q100認證主要用于預防產品可能發生各種狀況或潛在的故障狀態，引導零部件供貨商在開發的過程中就能采用符合該規范的芯片。AEC-Q100對每一個芯片個案進行嚴格的質量與可靠度確認，確認制造商所提出的產品數據表、使用目的、功能說明等是否符合最初需求的功能，以及在連續使用后功能與性能是否能始終如一。
AEC-Q100標準的目標是提高產品的良品率，這對芯片供貨商來說，不論是在產品的尺寸、合格率及成本控制上都面臨很大的挑戰。不管是投標還是占領市場，要想盡早進入汽車領域并且立足，AEC-Q100系列認證都將會是車規芯片認證的首選。
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