文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間：2022-07-28 瀏覽數(shù)量：
元器件篩選分為生產(chǎn)篩選（即一次篩選）和補(bǔ)充篩選（即二次篩選），元器件篩選是根據(jù)產(chǎn)品固有質(zhì)量特性和裝備可靠性要求，通過一系列非破壞性試驗(yàn)，剔除不滿足使用要求的元器件的檢驗(yàn)過程。
電子元器件有效工作壽命就是它的可靠性，即它能夠正常完成某一特定電氣功能的時(shí)間。電子元器件失效的過程通常是這樣的：隨著時(shí)間的推移或工作環(huán)境的變化，元器件的規(guī)格參數(shù)發(fā)生改變，例如電阻器的阻值變大或變小，電容器的容量減小等。當(dāng)它們的規(guī)格參數(shù)變化到一定限度時(shí)，盡管外加工作條件沒有改變，卻也不能承受電路的要求而徹底損壞，使它們的特性參數(shù)消失，例如二極管被電壓擊穿而短路，電阻因阻值變小而超負(fù)荷燒斷等。顯然，這是一個(gè)“從量變到質(zhì)變”的過程。
電子元器件的失效率是時(shí)間的函數(shù)。統(tǒng)計(jì)數(shù)字表明，新制造出來的電子元器件，在剛剛投入使用的一段時(shí)間內(nèi)，失效率比較高，這種失效稱為早期失效。電子元器件的早期失效，是由于在設(shè)計(jì)和生產(chǎn)制造時(shí)選用的原材料或工藝措施方面的缺陷而引起的。它是隱藏在元器件內(nèi)部的一種潛在故障，在開始使用后會(huì)迅速惡化而暴露出來，元器件的早期失效是十分有害的，但又是不可避免的。在經(jīng)過早期失效期以后，電子元器件將進(jìn)入正常使用階段，其失效率會(huì)顯著地迅速降低，這個(gè)階段叫做偶然失效期。在偶然失效期內(nèi)，電子元器件的失效率很低，而且在極長的時(shí)間內(nèi)幾乎沒有變化，可以認(rèn)為它是一個(gè)小常數(shù)。在經(jīng)過長時(shí)間的使用之后，元器件可能會(huì)逐漸老化，失效率又開始增高，直至壽命結(jié)束，這個(gè)階段叫做老化失效期。電子元器件典型的失效率函數(shù)曲線如圖1 所示，其變化的規(guī)律就像一個(gè)浴盆的剖面，所以這條曲線常被稱為“浴盆曲線”。
電子元器件篩選的原理是給電子元器件施加熱的、電的、機(jī)械的或者多種結(jié)合的外部應(yīng)力，模擬惡劣的工作環(huán)境，使它們內(nèi)部的潛在故障加速暴露出來，然后進(jìn)行電氣參數(shù)的測(cè)量，篩選剔除了那些失效或變值的元器件，盡可能把早期失效消滅在正常使用之前。
1. 剔除早期失效產(chǎn)品
2. 提高產(chǎn)品批次使用的可靠性
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