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石英晶體諧振器的定義

       簡稱石英晶體或晶振，石英晶體是壓電晶體的一種，利用石英晶體的壓電效應實現頻率控制、穩定或選擇，所制成的電子元器件包括石英晶體諧振器、石英晶體振蕩器和石英晶體濾波器。

根據引線狀況可分為直插（有引線）與表面貼裝（無引線）兩種類型。

石英晶體諧振器的作用

主要特征是其原子或分子有規律排列，反映在宏觀上是外形的對稱性，在電場的作用下，晶體內部產生應力而形變，從而產生機械振動，獲得特定的頻率。

石英晶體諧振器AEC-Q200認證檢測項目

應力測試前后電氣測試

測試數量：573pcs

測試標準：UserSpec.用戶規格

測試要求：需在25±5°C進行測試，除了適用的應力測試標準和表2中的附加要求指定之外。

高溫存儲測試

測試數量：77pcs

測試標準：MIL-STD-202    Method 108

測試要求：不通電，在大額定溫度下放置器件1000小時。試驗結束后24±4小時內進行測試。

溫度循環測試

測試數量：77pcs

測試標準：JES D22    Method JA-104

測試要求：1000個循環（-55°C到+125°C）；試驗結束后24±4小時內進行測試。 每個溫度的停留時間不超過30分鐘，轉換時間不超過1分鐘。

偏高濕度測試

測試數量：77pcs

測試標準：MIL-STD-202    Method103

測試要求：在溫度85°C，濕度85%的條件下放置1000小時；施加額定的VDD和1MΩ，并聯逆變器，在每個晶體腳和GND之間有2X的晶體CL電容器，試驗結束后24±4小時內進行測試。

工作壽命測試

測試數量：77pcs

測試標準：MIL-STD-202Method108

測試要求：（1000h）穩定狀態TA=125°，如果85℃的產品，應在其溫度下進行。施加額定的VDD和1MΩ，并聯逆變器，在每個晶體腳和GND之間有2X的晶體CL電容器； 試驗結束后24±4小時內進行測試。

外觀

測試數量：573pcs

測試標準：MIL-STD-883 Method 2009

測試要求：檢查器件結構，標識和工藝質量，不要求電氣測試。

尺寸

測試數量：30pcs

測試標準：JESD22MethodJB-100

測試要求：按適用的器件規格驗證物理尺寸。注意：用戶和供應商規格，不要求電氣測試。

端子強度 （引腳）測試

測試數量：30pcs

測試標準：MIL-STD-202 Method-211

測試要求：只進行引腳和引腳牢固性測試。條件A(2.27g), C (227g)

溶劑抵抗測試

測試數量：5pcs

測試標準：MIL-STD-202    Method 215

測試要求：注意適用于被標識和/或涂層的器件。增加水洗清洗劑-OKEM清洗劑（6%濃度的Oakite清洗劑（表面活性劑及堿的混合物，包括苛性鈉、硅酸鹽及磷酸鹽））或其它相同的溶劑。

機械沖擊測試

測試數量：30pcs

測試標準：MIL-STD-202    Method 213

測試要求：條件C

振動測試

測試數量：30pcs

測試標準：MIL-STD-202Method204

測試要求：測試頻率從10-2000赫茲，5g/s的力20分鐘，三個方向每個方向12個循環。

抗焊接熱試驗

測試數量：30pcs

測試標準：MIL-STD-202Method210

測試要求：260±5℃，時間10±1s，浸入深度1.27mm

可焊性試驗

測試數量：30pcs

測試標準：J-STD-002

測試要求：用于引腳和表面貼裝元件，不需要電氣測試，放大50倍。 引腳產品方法A    @ 235℃  表面貼裝元件 方法B 4小時、155℃ 、干熱235℃ 和 方法B215℃

電氣特性測試

測試數量：30pcs

測試標準：用戶規格書

測試要求：按批次和樣品數量要求進行參數試驗，總結列出室溫下及低，高工作溫度下器件的小值，大值，平均值和標準偏差。至少要測量低溫度/室溫/高溫度下的參數CP,DF,IR。見參數表格中的建議。

可燃性試驗

測試數量：20pcs

測試標準：UL-94

測試要求：V-0 或 V-1 可接受

板彎曲試驗

測試數量：30pcs

測試標準：AEC-Q200-005

測試要求：只適用于MLCC,至少60秒的支撐時間

端子強度（表面貼裝元件）測試

測試數量：30pcs

測試標準：AEC-Q200-006

測試要求：標準要求規定

注意：預前應力電氣測試也作為電氣特性。1000小時試驗過程中需要在250和500小時進行間隔測量。

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