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文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間：2023-08-16 瀏覽數量：
雷擊浪涌測試是電子產品常做的測試項目，優(yōu)科檢測是專業(yè)第三方電子產品檢測機構，實驗室具備電子產品雷擊浪涌CNAS測試資質和測試能力，接下來為大家介紹雷擊浪涌測試對電子設備的影響。
隨著科技的發(fā)展，電子產品的集成度越來越高，電子元器件也變得更小更精細，同時也變得更加敏感、更加容易受到電磁干擾。因此，浪涌的防護能力也成為了影響電子產品的可靠性以及產品可使用壽命的要素之一，而浪涌的測試與防護也變成了電子行業(yè)日漸重視的一個研究課題。
我們常見的浪涌測試分為三種：分別為電源端浪涌、信號端浪涌、低壓浪涌。
1、電源端浪涌
電源端浪涌為一個1.2/50μs的電壓波和一個8/20μs的電流波組成的組合波，常見的測試產品有充電樁、家電產品、醫(yī)療儀器等AC電源直供產品（部分DC電源供電產品及市電防雷暫不舉例）。該浪涌的破壞性極強，在未進行浪涌防護的情況下，通常會導致電源部分的橋堆短路或炸開、保險絲斷開和濾波電容爆炸等現象；在走線太過細小、銅厚過薄的情況下，也會將走線炸斷。
由于該浪涌造成的損壞對產品的影響最為直觀，所以一般在電路設計時，就需要在電源輸入端添加壓敏電阻、氣體放電管等防浪涌器件進行保護。
2、信號端浪涌
信號端浪涌為一個10/700μs的電壓波和一個5/320μs的電流波組成的組合波，常見的測試端口有網絡端口、RS232、RS485等信號端口。
該浪涌通常會使信號處理IC短路、爆炸，或信號走線燒毀，使樣機功能異常，特別是遠距離傳輸的信號線，更加容易受到感應浪涌的干擾，因此，通常會在端口位置添加TSS放電管或氣體放電管等防浪涌器件進行保護。
3、低壓浪涌
低壓浪涌的脈沖波形和電源端浪涌相同，也是由一個1.2/50μs的電壓波和8/20μs的電流波組成的組合波。與電源端浪涌的區(qū)別為測試電壓較低，通常為3V至300V。通常由電子產品的熱拔插引起的充電端口浪涌，也有產線生產裝配時對電池端口拔插引起的浪涌。常見的測試產品有TWS耳機、智能手表、Hi-fi播放器、鍵盤、平板、HDMI分配器、對講機等。
低壓浪涌產生的破壞可大可小，以USB充電端口為例，破壞性大時，會對電源IC進行直接損壞，使樣機充電異常；破壞性較小時，會使電源IC性能下降，隨著充電插拔操作的次數增多，電源IC會失效或者短路。
因此，這種浪涌造成的損壞會在產線中的PCB測試、老化測試、成品測試過程中出現，或者售后消費者使用一段時間后才體現出來。
對于低壓浪涌所造成的損壞后果，輕則影響產線效率，重則造成停產，需要回爐重新設計，嚴重影響了交期與公司信譽。如果已大量出貨，一段時間后可能會發(fā)生大量客戶投訴及返修，導致售后維護成本急劇增加，并可能對品牌美譽度造成不可估量的影響。
所以，在產品研發(fā)設計初期時就需要預先增加浪涌防護措施，如對地增加TVS器件、TVS器件與共模器件配合使用等。
綜上所述，浪涌的防護不僅僅是對產品電源部分、信號處理部分的保護，更是對產品的穩(wěn)定性、安全性、可靠性的綜合考慮。所以，在產品設計時，不僅僅要考慮產品的功能、成本等要求，還應該預留滿足要求的浪涌防護措施來防范于未然。
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