1. 接觸阻抗(Contact Resistance) 目的:維持連接器在使用期限內的接觸阻抗,以減少信號和能量在傳輸過程中的損失或衰減。 UL認證測試方法:EIA-364-23 (EIA-364-06) or MIL-STD-1344A,3004.1。 測試要點: a. 測試電流/電壓100mA@20mV,被測試連接器(連接系統)無負載。 b. 測試電流為低電流是為了避免接觸阻抗受到端子(導體)熱電效應影響。 c. 測試電壓為低電壓是為了避免端子(導體)之間接觸界面絕緣薄膜被擊穿和熔化。 規范要求: 一般要求50m?(initial);100m?(final,即在壽命測試或環境測試后)。
2. 耐電壓(Withstanding Voltage) 目的:確認兩導體(或兩回路)之間的絕緣介質(包含氣體)及其間距是否適合和足夠,以確保連接器在開關衝擊電壓或意外過載(一定時間內的過電壓)狀態下能維持正常功能,確保安全性。 UL認證測試方法:EIA-364-20 or MIL-STD-1344A,3001.1。 測試要點: a. 一般,測量點放在距離最近的兩導體(或兩回路)之間,或指定兩導體(或兩回路),必要時測量每兩導體(或兩回路)。 b. 測試電壓可用AC (60Hz; sine wave ; 有效值=0.707*峰值) or DC。 c. 負載速度:500V/second;持續時間:60second。 d. 在要求測試電壓下出現擊穿(火花)或漏電流大于5mA為不良。 規范要求:手機連接器一般為100VAC Min./minute。
3. 絕緣阻抗(Insulation Resistance) 目的:確認連接器中兩導體(或兩回路)間維持足夠高的阻抗以防止產生足以影響信號(特別是高頻傳輸)和能量傳輸的弱電流。 UL認證測試方法:EIA-364-21 or MIL-STD-1344A,3003.1。 測試要點: a. 一般,測量點放在距離最近的兩導體(或兩回路)之間,或指定兩導體(或兩回路),必要時測量每兩導體(兩回路)。 b. 測試電壓等級有DC 100V,500V,1000V,1500 V;依產品功能需求確定 。 c. 持續時間:2minutes(如果時間對結果有影響,則需確定測試持續時間) 。 d. 必要時需對測試樣品進行清洗,烘烤后再做測試。 e. 測試過程不得有火花或絕緣體被擊穿現象。 規范要求:手機連接器一般為100M? Min.。
4. 溫升測試(Temperature rise) 目的:確認連接器中導體(回路)的電流負載能力,確保連接器在長期負載下的安全性。 UL認證測試方法:EIA-364-70。 測試要點: a. 整個回路在負載電流下達到熱平衡方可開始測量溫度變化。 b. 測試電流/電壓為額定工作電流,工作電壓。 c. 加載電流電壓持續時間依照回路達到熱平衡所需時間。 規范要求:在25攝氏度室溫,1個大氣壓的環境下,通過1.5A@250VAC Min.的電流,系統導體(回路)任何一點的溫升不超過30攝氏度。