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文章來源 : 廣東優科檢測 發表時間：2022-08-17 瀏覽數量：
半導體器件可以劃分為分立器件和集成電路兩大類。分立器件包括各種二極管、三極管、場效應管、可控硅、光電器件及特種器件; 集成電路包括雙極型電路、 MOS電路、厚膜電路、薄膜電路等器件。
各種器件的失效模式和失效機理都有差異。不同的失效機理應采用不同的篩選項目：
- 查找焊接不良，安裝不牢等缺陷，可采用振動加速度;
- 查找元器件鍵合不牢，裝片不良，內引線配置不合適等缺陷，采用離心加速度;
- 查找間歇短路、間歇開路等缺陷，采用機械沖擊等。
因此，不同器件的篩選程序不一定相同。如晶體管的主要失效模式有短路、開路、間歇工作、參數退化和機械缺陷等五種，每種失效模式又涉及到多種失效機理，這些都是制定合理的篩選程序的重要依據。
a) 外觀檢查：用10倍放大鏡檢查外形、引線及材料有無缺陷。
b) 溫度循環：使元器件交替暴露在規定的極限高溫和極限低溫下，連續承受規定條件和規定次數的循環，由冷到熱或由熱到冷的總轉移時問不超過1min，保持時間不小于10min。
c) 高溫壽命(非工作：按照國家標準規定的壽命試驗要求，使元器件在規定的環境條件下(通常是最高溫度)存儲規定的時間。
d) 電功率老煉：按降額條件達到最高結溫下的老煉目的，老煉功率按元器件各自規定的條件選取。
e) 密封性試驗：有空腔的元器件，先細檢漏，后粗檢漏。
f) 電參數測試(包括耐壓或漏電流等測試)：按產品技術規范合同規定進行。
g) 功能測試：按產品技術規范合同規定進行。
基于以上原理，優化了元器件測試篩選先后次序，按照失效模式的分類，對檢測篩選手段依據元器件測試篩選先后次序的原則進行排序。
1. 篩選要能有效地剔除早期失效的產品，但不應使正常產品提高失效率。
2. 為提高篩選效率，可進行強應力篩選，但不應使產品產生新的失效模式。
3. 合理選擇能暴露失效的最佳應力順序。
4. 對被篩選對象可能的失效模式應有所掌握。
5. 為制訂合理有效的篩選方案，必須了解各有關元器件的特性、材料、封裝及制造技術。
此外，在遵循以上五條原則的同時，應結合生產周期，合理制定篩選時間。
優科檢測認證專注電子元器件檢測十五年，具備半導體集成電路、混合集成電路、微波電路及組件、半導體分立器件、光電子器件、通用元件、機電元件及組件、特種元件及外殼等元器件的篩選老化能力。可開展電子元器件二次篩選、元器件破壞性物理分析（DPA）、元器件失效分析（FA）、元器件安規認證等元器件檢測認證服務。
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